波前分析仪
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波前分析仪 详细信息 产品介绍:法国PHASICS的波前分析仪(上海屹持光电代理),基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术(4-WaveLateralShearingInterferometry)。作为夏克-哈特曼技术的改进型,这种技术将高分辨率和大动态范围很好地结合在一起。能实现全面、简便、快速的测量。 法国PhasicsSID4系列波前分析仪主要应用领域: 1.激光光束参数测量:相位(2D/3D),M2,束腰位置,直径,泽尼克/勒让德系数 2.自适应光学:焦斑优化,光束整形 3.元器件表面质量分析:表面质量(RMS,PtV,WFE),曲率半径 4.光学系统质量分析:MTF,PSF,EFL,泽尼克系数,光学镜头/系统质量控制 5.热成像分析,等离子体特征分析 6.生物应用:蛋白质等组织定量相位成像 法国PhasicsSID4系列波前分析仪产品特点: 1.高分辨率:采样点可达120000个 2.可直接测量:消色差设计,测量前无需再次对波长校准 3.消色差:干涉和衍射对波长相消 4.高动态范围:高达500μm 5.防震设计,内部光栅横向剪切干涉,对实验条件要求简单,无需隔震平台也可测试 更多详情咨询: http://www.eachwave17.cn/Products-37202953.html https://www.chem17.com/st326217/erlist_1303064.html |